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-孔隙结构分析测试-

        储层孔隙结构研究主要集中于储层孔隙结构成因分析、储层孔隙结构的定量表征和分类评价、基于储层孔隙结构研究进行储层评价、储层孔隙结构对流体活动的影响、储层孔隙结构对开发的影响、油气田开发对储层孔隙结构的影响和储层孔隙结构研究方法手段的改进等几个方面。 主要研究方法有 (1)间接测定法: 毛管压力法,包括压汞法、半渗透隔板法、离心机法、动力驱替法、蒸气压力法等(2)直接观测法: 铸体薄片法、图像分析法、各种荧光显示剂注入法、 扫描电镜法等(3)数字岩心法:铸体模型法、数字岩心孔隙结构 三维模型重构技术等。 本司同多家石油类院校及国内一流科研院所合作,基本覆盖了储层孔隙结构的全部测量方法。   

 

Zeiss Auriga聚焦离子束透射电子显微镜

Zeiss Auriga Compact型聚焦离子束双束系统可以实现定点制备高质量的TEM样品、在微纳米尺度上截面精细结构观察(如微纳孔隙)和原位标记等多种功能分析。

  • Pt,W,C,SiO2,XeF2气体注入系统:可在离子束、电子束诱导下进行可控沉积及增强或选择性刻蚀;
  • 牛津纳米机械手(含电学性能测试):透射电镜取样系统,可提取FIB切割后的微小样品,配合FIB对纳米材料进行搬运、操纵;
  • 三维成像系统:可实现对样品的自动切割,自动拍照以及所有照片叠加后的三维重构;
  • 微纳米加工系统:具备离子束沉积并加工复杂图形的软硬件系统;具有电子束流枪,可对绝缘体材料无干扰加工或刻蚀;



Quanta250 FEG型冷场发射扫描电镜

场发射环境扫描电子显微镜(Quanta250 FEG)由美国FEI公司制造,具有高真空、低真空和ESEM™环境真空三种真空模式,可对各种样品(导电样品、不导电样品,特别是对含水、含油的样品等)进行高分辨形貌观察和分析,并进行结构和成份表征,可同时得到表面像和成份像。配备冷、热台,可对样品保持其原始状态下进行加热、凝固等动态过程的观察。采用场发射灯丝,亮度为钨灯丝近千倍,具更高分辨率。能谱仪(INCAx-max20)由英国牛津公司制造,采用电制冷,对多种样品进行定性或半定量微区成分分析

Quadrasorb 全自动比表面分析仪

用于测定岩石的比表面积、孔径、孔分布、总孔体积等物理学特性参数。此仪器可同时测定4个样品,单点BET测定时间小于8分钟。孔径测定范围为3.5- 400埃,比表面积测定范围为0.01一2000m²/g(N2),可测最小孔体积为2.2x 10-6cc/g。

测量参数:

  • 吸附及脱附等温曲线;
  • 多点和单点BET比表面积(包括常数和相关系数);
  • Langmuir 比表面积;
  • 中孔体积和面积分布(BJH和DH法);
  • 总孔体积,微孔面积、 DR微孔面积、 MP HK,DA和SF微孔分布;
  •  分形维数NK、FHH。


 

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